行业标准修改通知单
NB/T 47013.3-2015
《承压设备无损检测 第3部分:超声检测》
第1号修改单
本修改单经国家能源局于2018年5月14日以第7号公告批准,自2018年7月1日起实施。
5.3.3.1.1条改用新条文:
5.3.3.1.1 “直探头选用一般应按表3的规定进行。在满足5.3条规定的灵敏度及缺陷判定的基础上,也可以选用其他型式的探头,如双晶直探头或多晶直探头(含板材厚度>60mm时)。”
② 5.3.9.2 第一行中更改质量分级级别:
“Ⅴ级”更改为“Ⅳ级”。
③ 表6更改为新表6:
新表6 承压设备用板材中部检测区域质量分级
等级 |
最大允许单个缺陷指示面积S或当量平底孔直径D |
在任一1m×1m检测面积内缺陷最大允许个数 |
|
单个缺陷指示面积或 当量平底孔直径评定范围 |
最大允许个数 |
||
TI |
双晶直探头检测时: S≤50mm2 |
双晶直探头检测时:20mm2<S≤50mm2 |
10 |
或单晶直探头检测时: D≤φ5mm+8dB |
或单晶直探头检测时: φ5mm<D≤φ5mm+8dB |
||
I |
双晶直探头检测时:S≤100mm2 |
双晶直探头检测时:50mm2<S≤100mm2 |
10 |
或单晶直探头检测时: D≤φ5mm+14dB |
或单晶直探头检测时: φ5mm+8dB<D≤φ5mm+14dB |
||
II |
S≤1000mm2 |
100mm2<S≤1000mm2 |
15 |
III |
S≤5000mm2 |
1000mm2<S≤5000mm2 |
20 |
IV |
超过Ⅲ级者 |
||
注:使用单晶直探头检测并确定5.3.7.1 b)所示缺陷的质量分级(T I级和Ⅰ级)时,与双晶直探头要求相同。 |
新表7 承压设备用板材边缘或剖口预定线两侧检测区域质量分级
等级 |
最大允许单个缺陷指示长度Lmax |
最大允许单个缺陷指示面积S或 当量平底孔直径D |
在任一1m检测长度内最大允许缺陷个数 |
|
单个缺陷指示长度L或 当量平底孔直径评定范围 |
最大允许个数 |
|||
TI |
≤20mm |
双晶直探头检测时: S≤50mm2 |
双晶直探头检测时: 10mm<L≤20mm |
2 |
或单晶直探头检测时: D≤φ5mm+8dB |
或单晶直探头检测时: φ5mm<D≤φ5mm+8dB |
|||
I |
≤30mm |
双晶直探头检测时: S≤100mm2 |
双晶直探头检测时: 15mm<L≤30mm |
3 |
或单晶直探头检测时: D≤φ5mm+14dB |
或单晶直探头检测时: φ5mm+8dB<D≤φ5mm+14dB |
|||
II |
≤50mm |
S≤1000mm2 |
25mm<L≤50mm |
5 |
III |
≤100mm |
S≤2000mm2 |
50mm<L≤100mm |
6 |
IV |
超过Ⅲ级者 |
|||
注:使用单晶直探头检测并确定5.3.7.1 b)所示缺陷的质量分级(TI级和Ⅰ级)时,与双晶直探头要求相同。 |
⑤ 将5.6.4.1条中的“轴向”二字删除。
⑥ 将5.6.4.2条中的“轴向”二字删除。
① 8.4.6.2.3.1 b)条改用新条文:
8.4.6.2.3.1 b)“工件厚度t>15mm时,缺陷指示长度应大于等于t/2或15mm(取大者,但最大为30mm)。”
② 附录J的表J.1更改为新表J.1:
新表J.1 RB-L系列对比试块尺寸(推荐) 单位为mm
RB-L编号 |
工件厚度t |
试块厚度T |
横孔深度位置 |
横孔直径 |
RB-L-1 |
≥6~10 |
8 |
4 |
φ2.0 |
RB-L-2 |
>10~16 |
14 |
4、10 |
φ2.0 |
RB-L-3 |
>16~24 |
20 |
5、10、15 |
φ2.0 |
RB-L-4 |
>24~36 |
30 |
5、10、20、25 |
φ2.0 |
RB-L-5 |
>36~50 |
45 |
5、10、20、30、40 |
φ2.0 |
注:工件厚度t大于50mm时,试块宽度应满足6.3.10.1的要求,横孔深度位置最小可为10mm,深度间隔不超过20mm,试块厚度与工件厚度之差不超过工件厚度的20%。 |
⑨ 附录J的图J.1更改为新图J.1:
a) RB-L-1试块
b) RB-L-2试块
c) RB-L-3试块
d) RB-L-4试块
e) RB-L-5试块
新图J.1 RB-L系列对比试块示意图(推荐)
⑩ K.2.1条改用新条文:
K.2.1 “对比试块RB-C的形状和尺寸见图K.1。为方便试块加工和灵敏度调节,也可使用如表K.1和图K.2的试块。”
11 附录K的图K.1后补充表K.1和图K.2。
表K.1 RB-C系列对比试块尺寸(推荐) 单位为mm
RB-C编号 |
工件厚度t |
试块厚度T |
横孔深度位置 |
横孔直径 |
RB-C-1 |
≥6~10 |
8 |
4 |
φ2.0 |
RB-C-2 |
>10~16 |
14 |
4、10 |
φ2.0 |
RB-C-3 |
>16~24 |
20 |
5、10、15 |
φ2.0 |
RB-C-4 |
>24~36 |
30 |
5、10、20、25 |
φ2.0 |
RB-C-5 |
>36~50 |
45 |
5、10、20、30、40 |
φ2.0 |
注:工件厚度t大于50mm时,试块宽度应满足6.3.10.1的要求,横孔深度位置最小可为10mm,深度间隔不超过20mm,试块厚度与工件厚度之差不超过工件厚度的20%。 |
a) RB-C-1试块
b) RB-C-2试块
c)RB-C-3试块
d) RB-C-4试块
e) RB-C-5试块
图K.2 RB-C系列对比试块示意图(推荐)
12 附录K的表K.1序号更改为表K.2。
13 K.3.2条改用新条文:
K.3.2“探头折射角(K值)的选择见表25,探头标称频率可按表K.2选择。”
14 K.5.1条改用新条文:
K.5.1“检测面的选择按表K.2进行。”